用特殊纳米材料让普通硅芯片高效探测红外光

作者: aeks | 发布时间: 2025-10-25 13:09 | 更新时间: 2025-10-25 13:09

学科分类: 光学工程 材料科学与工程 电子科学与技术 纳米科学与工程

用特殊纳米材料让普通硅芯片高效探测红外光
用特殊纳米材料让普通硅芯片高效探测红外光

硅基光电探测器具有与CMOS工艺兼容、成本低、响应速度快等显著优势,是大规模集成光学和电子功能的理想平台。然而,硅的本征带隙约为1.1 eV,这使得硅光电器件无法有效吸收和检测红外光,从而限制了其在通信、医疗诊断和遥感等红外领域的应用。为突破这一限制,研究人员尝试了多种方法,如开发锗或III-V族/二维材料混合探测器、通过掺杂进行带隙工程以及利用内光电发射效应等,但这些方法往往增加了制备复杂度并降低了量子效率。另一种途径是将硅探测器与上转换纳米颗粒(UCNPs)集成,利用UCNPs的反斯托克斯过程将低能红外光子转换为高能可见光光子,但此前这类探测器的响应度较低(仅8 mA/W),提升上转换效率仍是亟待解决的问题。本研究提出了一种基于无序米氏-等离激元超表面与UCNPs集成的高效硅基红外光电探测器。该无序超表面设计通过改变纳米柱位置引入无序度(用参数σ量化),既能将电场限制在硅纳米柱内,又能拓宽从可见光到近红外的光吸收范围。UCNPs(NaYF4:Er@NaYF4)被集成到超表面中,可将入射红外光上转换为多波长可见光,这些可见光光子通过铝膜与硅衬底之间的肖特基势垒被检测。三维时域有限差分法(FDTD)模拟显示,无序超表面破坏了平移对称性,扭曲了光子能带结构,增强了光子局域化并抑制了镜面反射,从而提升了近场强度和宽带光捕获能力。实验结果表明,在1550 nm近红外激光照射下,该探测器在室温下的响应度达0.22 A/W,外量子效率为17.6%,与现有UCNPs技术相比响应度提升了28倍。这项设计不仅提高了光电流性能,还成功将硅光电探测器的工作波长扩展到红外光谱,为下一代宽带硅基光电器件(如可与可调超表面集成的小型化红外光谱仪)提供了有前景的发展方向。

DOI: 10.1126/sciadv.adx7783

标签: 上转换纳米颗粒 无序超表面 硅光电探测器 红外探测